4020140060 Introduction to Electron Microscopy
Digital- & Präsenz-basierter Kurs
- classroom language
- DE
- aims
- English
- requirements
- Grundkenntnisse der Röntgenbeugungstheorie, Grundkenntnisse der Quantenmechanik
- assigned modules
-
P23.2.2
P23.2
- amount, credit points; Exam / major course assessment
- 2 SWS, 5 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
Teilnahme am Kurspraktikum „Elektronenmikroskopie – Grundlagen und Anwendungen“
- other
- Die Veranstaltung wird durch das Kurspraktikum „Elektronenmikroskopie – Grundlagen und Anwendungen“ ergänzt (40544).
Je nach den Wünschen der Studierenden kann die Lehrveranstaltung sowohl in englischer als auch in deutscher Sprache angeboten werden.
- contact
- Dr. Anna Mogilatenko, NEW15 3'306
- literature
-
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9